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薄膜測厚儀特點知多少

更新時間:2014-01-21      瀏覽次數(shù):1492

1、非接觸式測量,用光纖探頭接收反射光,不會被破壞和污染薄膜;

2、薄膜測厚儀測量速度快,測量時間為秒的量級;

3、可用來測薄膜厚度,也可用來測量薄膜的折射率n和消光吸收k;

4、薄膜測厚儀可測單層薄膜,還可測多層膜系;

5、薄膜測厚儀可廣泛應用于各種介質(zhì),半導體,液晶等透明或半透明薄膜材料;

6、軟件的材料庫中整合了大量材料的折射率和消光系數(shù),可供用戶參考。

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